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半导体器件特性曲线测试方法的研究

时间:2020-01-23 03:14:50

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半导体器件特性曲线测试方法的研究

一,利用IV,分析仪测量二极管的伏安特性

二、测量方法以及步骤

1、选择原件:在Multisim,主界面的左侧元器件男装选择某种型号的二极管,并将拖至电路图窗口

2、选择仪器:在右侧仪器仪表男装选择IV分析仪,也将其拖至电路图窗口,打开IV分析仪,在仪器选择,IV分析仪的右下角将显示出二极管管脚所接端子

3、完成测试:设置仪器参数,闭合仿真开关即可得到复安特性曲线移动光标,可以读出管压降及其对应的电流值

仿真如图所示

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