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ddr老化测试_【鼎阳硬件智库原创︱DDR 】 DDR硬件调试篇:DDR硬件设计调试测试 之二...

时间:2024-01-31 21:17:03

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ddr老化测试_【鼎阳硬件智库原创︱DDR 】 DDR硬件调试篇:DDR硬件设计调试测试 之二...

DDR硬件调试篇

前言:大家自己设计的产品出来后都有遇到一些什么样的DDR问题呢?这些问题是否为致命问题,一定要解吗?如果机器已经生产出来,却发现DDR硬件问题导致系统不稳定,机器是否作废了,有没有软件方法可以弥补?机器死机如何定位是否为DDR问题,怎么排查?

在实践过程中,设计者会遇到各种形形色色,五花八门的问题,个人遇到的只是沧海一粟,如果抛砖引玉之后,有经验的汇聚,那么DDR调试将变得不在困难。

案例一:时钟抖动问题

根据jedec规范,DDR时钟中需要测试周期抖动。在需要测试的时钟抖动中,单独把周期抖动提出来,是因为周期抖动比较容易测试fail。

在遇到周期抖动fail时,首先需要关注电源的noise问题,如果给DDR供电电源的noise过大的话,就会导致CLK的抖动过大。

其次查看DDR走线包地是否完好,参考平面是否OK,当然这些如果是参考方案供应商设计一般不会有此问题。

最后因时钟是主芯片发出,测试主芯片的晶体时钟频偏是否OK,晶体时主芯片内部时钟的基础。还存在一种可能就是DDR可能开了展频,那样时钟的抖动肯定是fail的。

如果排查了上述问题之后,测试结果还是fail,那么时钟抖动一定要测试pass吗?从个人经验看,如果把调试手段做到位之后,依然存在此问题,在保证煲老化等测试可以pass的情况下,可以不用卡住该指标不放。

案例二:电源问题。DDR供电电源如果出现噪声过大,甚至掉电drop时,系统容易出现死机重启问题,这里主要涉及测试方法的问题,将在测试篇再详细介绍。至于电源的调试,涉及DC/DC,电容,电感的选择。目前DC/DC电源方案比较成熟,调试不会太难。

案例三:EMI问题。在EMI测试时,经常会遇到DDR的辐射问题。首先需要定位辐射频点是否来自DDR。如果你得到的信息是DDR3数据速率跑1600,那么一般认为时钟频率为800M。需要注意是,DDR的实际时钟频率有可能存在偏差,不为800M的整数。如图6中的EMI测试结果:

图6

从图中频点看,第一时间想到的可能不是DDR辐射出来的频点,但是后来通过频谱仪扫频点时,在DDR区域发现有该频点,基本就可以证明该频点来自DDR。如果要进一步证明,可以和方案厂家确认或者通过修改DDR工作频率来观察辐射频点是否会偏移。

遇到DDR EMI的问题应该如何解呢?一是可以加加屏蔽罩,如果在硬件设计阶段未预留屏蔽罩,可以通过焊接铜箔纸来做实验。焊接铜箔时需要注意不要短路以及尽可能让铜箔充分接地。二是DDR开展频,这个方法需要和方案厂家确认方法是否可行,还有就是充分保证可靠性测试。三是注意结构问题,看结构上是不是有未接地的金属片,比如散热铝板或者配重铁块。有未接地的金属物及容引发EMI问题,因为金属未接地,相当于天线会把信号辐射出去。

金属未接导致EMI可以从电尺寸角度去解决。电尺寸用波长λ来衡量。当电尺寸L<λ/20时,为电小尺寸;当电尺寸L≥λ/20时,为电长尺寸,即可导致金属片相当于一个天线,会向外辐射信号。此时需要将金属接地。接地的法则:在干扰源附近接地,接地的间距原则上是间距<电长尺寸,即任意两个接地点的距离不应超过PCB内最高频率波长的λ/20。是实际调试不一定那么严格,调试至测试结果可以pass即可。记住良好的接地能缓解信号电压的瞬变,保证良好的信号回流路径。

案例四:死机问题。在DDR设计篇中讲到了, DDR设计时需要保证和参考设计叠层一致。出现叠层不一致的情况时,可能导致机器运行死机情况的出现。

死机问题排查坚持由易到难的原则:

1),可以先排除电源问题,测试level/niose/drop;

2),根据打印信息,看是否软件有问题;

3),检查叠层信息,看是否和参考设计一致,如果发现不一致,那么该如何解决该问题呢?

发生该问题一种情况是设计者按照自己经验将第三层POWER层的GND挖空,仅保留POWER走线,导致第4层的信号只能参考第二层的GND,这样阻抗偏差太大导致系统不稳定。这种情况一位高人解决方法是在第四层贴铜箔纸,然后接地,模拟GND,发现机器能够较为稳定的运行。这样方法可以用于实验手段证明系统死机问题是由挖掉第三层的GND导致的。

还有一种情况是叠层类型搞错,如表1的PP型号,如果PP类型搞错,会导致阻抗发生偏差(主要是厚度影响),那么煲机或者高频率操作UI(可编写脚本自动模拟)时容易出现死机情况。在这种情况下,可以通过软件降频来验证是否由阻抗差异导致。比如将DDR数据速率从1600降低至1333甚至更低来做实验。

案例五:wifi吞吐量低。该案例看起来似乎和DDR没有什么关系,但是最终查明导致wifi吞吐量低的源头来自DDR。

案例详情:wifi在弱信号下吞吐量低。分析发现干扰来自于DDR。DDR时钟工作在800M附近,该频率的4次谐波落在2.4G,为wifi的工作频段。wifi的天线和DDR距离很近,将wifi天线远离DDR时,吞吐量恢复正常。尝试给DDR开展频,发现不奏效,估计展频仅仅是增加的频率区间,虽然峰值有所减少,但是4次谐波依然会打在2.4G区域。修改结构,使得天线远离DDR,到PV阶段已经不可行。最终还是在DDR区域加上屏蔽罩解决。

因此在设计阶段还需要注意wifi模块最好远离DDR,如果结构不允许,那么屏蔽罩的位置就需要预留。

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